形状可调的片上光电探测器
授权
摘要
本实用新型提供的是一种形状可调的片上光电探测器，由光电探测器阵列(1)、可编程开关阵列(2)、窜扰抑制模块(3)、可调电压源(4)、跨阻放大器(5)、高通滤波器(6)、可调增益放大器(7)和模拟数字转换器(8)组成。本实用新型可用于光电探测器感光面的形状调整和探测过程中的窜扰抑制，可广泛应用在光度计量、光电测量、工业自动控制和光通信等领域。
基本信息
专利标题 ：
形状可调的片上光电探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121456601.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-06-29
授权号 ：
CN216746425U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
邓仕杰高朕张义荣
申请人 ：
传周半导体科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区海洋一路333号1号楼、2号楼
代理机构 ：
北京久维律师事务所
代理人 ：
邢江峰
优先权 ：
CN202121456601.5
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/44 G01P3/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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