质子交换膜各向异性电导率测试方法与装置
公开
摘要
本发明涉及一种质子交换膜各向异性电导率测试方法与装置,该装置包括由前至后依次排列的前端板、滑块一、极板一、质子交换膜、边框膜、极板二、滑块二和后端板,滑块一安装在极板一上,滑块一与极板一之间设置有密封垫三,滑块二安装在极板二上,滑块二与极板二之间设置有密封垫四,极板一与前端板之间、以及极板二与后端板之间均设有密封垫一,质子交换膜贴合于边框膜上,边框膜与极板一、极板二之间均设有密封垫二,前端板、密封垫一、滑块一、极板一、密封垫二、质子交换膜、边框膜、极板二、滑块二、后端板组装为一体,滑块一、滑块二均呈“凸”字型结构;本发明能够实现在不同温湿度环境,兼具测试质子交换膜平面内和膜厚度方向电导率。
基本信息
专利标题 :
质子交换膜各向异性电导率测试方法与装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295896A
申请号 :
CN202111682418.1
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
唐海姚斌贺萍
申请人 :
上海亿氢科技有限公司
申请人地址 :
上海市奉贤区远东北路1515号1幢2层201
代理机构 :
上海科政专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨军
优先权 :
CN202111682418.1
主分类号 :
G01R27/08
IPC分类号 :
G01R27/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/08
通过测量电流和电压来测量电阻
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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