折射率测量装置及测量方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种折射率测量装置及方法,激光出射装置出射测量光和探测光,测量光经过光纤环形器进入双光路差动补偿装置,经过分光、差分移频以及光纤光栅的作用形成补偿后的测量光。补偿后的测量光经过光纤环形器回到激光出射装置进行调制形成调制后的探测光,数据处理装置根据调制后的探测光确定折射率变化。本申请采用光纤环形器与双光路差动补偿装置使得补偿后的测量光回到激光发生装置发生激光移频回馈效应。激光移频回馈效应具有高灵敏度特性,可以放大光纤光栅带来的光强信号变化,从而提高折射率测量装置的灵敏度。
基本信息
专利标题 :
折射率测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324240A
申请号 :
CN202111678234.8
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谈宜东代宗仁徐欣王一帆
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 :
魏朋
优先权 :
CN202111678234.8
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41 G01N21/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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