一种电容屏快速测试系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种电容屏快速测试系统,包括底座、下压夹具、排针式测试模组、水平移动送料平台和数值驱动机构,其下压夹具置于底座上;排针式测试模组具有若干个水平方向并排布置的双头顶针,双头顶针的两端上下布置;排针式测试模组设置在压板下方的底座上,或者排针式测试模组设置在压板的下表面;水平移动送料平台设置在底座上;竖直驱动机构能够驱动下压夹具的压板向下动作。本发明提供的电容屏快速测试系统,能够快速、准确测试电容屏产品,具备准确率高、效率高的特点,并且由于整体结构设计合理,提高了测试系统的使用寿命,能够满足各种电容式触摸屏功能片生产制程测试的需求。

基本信息
专利标题 :
一种电容屏快速测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280444A
申请号 :
CN202111673230.0
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
侯海平范江峰
申请人 :
江苏纳美达光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区6幢101室
代理机构 :
苏州禾润科晟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
勾昌羽
优先权 :
CN202111673230.0
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/073  G06F3/044  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211231
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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