一种超声波探头晶元测量装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种超声波探头晶元测量装置,包括测试机柜和自动测试平台,自动测试平台包括运动测试头模组、转换连接治具和承载平台,承载平台设置在测试机柜的柜体上,运动测试头模组设置在承载平台上,转换连接治具设置在承载平台上,转换连接治具包括转换连接电路板和测试夹具,转换连接电路板夹放于测试夹具中,转换连接电路板上具有测试标准区域和产品转接区域,测试标准区域上规则排列设置有阵列PAD点,产品转接区域上设置有晶元接触单元,晶元接触单元用来连接超声波探头晶元,晶元接触单元与测试标准区域的PAD点通过印刷导线对应连接。使用该设备对超声波探头晶元进行检测,能极大提高整体生产效率,完全满足自动化生产线的成本控制。
基本信息
专利标题 :
一种超声波探头晶元测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384389A
申请号 :
CN202111664704.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
汤奇峰刘慧丁森
申请人 :
苏州欧菲特电子股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市千灯镇黄浦江路东侧、玉溪路北侧
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111664704.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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