一种测量相位噪声的系统和方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种测量相位噪声的系统和方法,该系统包括检相电路、负反馈电路、第一开关、第二开关、第三开关、数模转换器、第一模数转换器、存储器和上位机;被测源、压控振荡器和检相器相连,构成检相电路;上位机数与模转换器相连输出白噪声信号;白噪声信号通过第一模数转换器输入到上位机;上位机获取第一电压;白噪声信号输入到压控振荡器,上位机获取第二电压;白噪声信号未输入到压控振荡器,上位机获取第三电压。本发明获取白噪声通过锁相环电路的功率谱密度,并结合白噪声信号的功率谱密度获取锁相环电路对相位噪声获取带来的环路误差,根据环路误差对相位噪声测量值进行补偿,消除了锁相环电路带来的误差,补偿后的获取结果更准确。
基本信息
专利标题 :
一种测量相位噪声的系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114421893A
申请号 :
CN202111654045.7
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘宇轩李宏宇沈晓宇
申请人 :
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号12号楼
代理机构 :
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 :
张国虹
优先权 :
CN202111654045.7
主分类号 :
H03B29/00
IPC分类号 :
H03B29/00
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03B 29/00
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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