一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质
公开
摘要
本发明公开了一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质，包括：当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像；当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像；确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。本申请可以在不依赖于专用平台工具的前提下，确定测试模组是否通过光轴测试，进而不用依赖平台工具商提供的算法，也不用满足平台工具的环境要求和设备要求，大大提高了光轴测试的灵活性，简化了光轴测试难度。
基本信息
专利标题 ：
一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295331A
申请号 ：
CN202111643997.9
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵永亮闫淑娟张生杰李满胡建军段磊
申请人 ：
昆山丘钛微电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号
代理机构 ：
北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨海霞
优先权 ：
CN202111643997.9
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 H04N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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