光学自准直测量系统自动准直立方镜实现方法及系统
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种光学自准直测量系统自动准直立方镜实现方法及系统，包括：上位机：与自准直测量系统和二维转台通过控制电缆连接，读取自准直测量系统的数据，控制二维转台转动；自准直测量系统：读取二维转台竖轴和横轴转角值和光学相机的准直偏差；光学相机：与自准直测量系统固定连接成一个整体，读取准直偏差量；二维转台：安置有光学相机与自准直测量系统固定连接成的整体，读取竖轴和横轴的转动角度；被测航天器：安置在航天器停放工装上，安装有立方镜。本发明实现了光学自准直测量系统对立方镜的高精度自动准直，进而实现航天器装配指向高精度测量的自动化，提高了测量效率和测量精度。
基本信息
专利标题 ：
光学自准直测量系统自动准直立方镜实现方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114326831A
申请号 ：
CN202111601928.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
余成义陈伟男刘四伟黄颖唐萌
申请人 ：
上海卫星装备研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区华宁路251号
代理机构 ：
上海段和段律师事务所
代理人 ：
施嘉薇
优先权 ：
CN202111601928.1
主分类号 ：
G05D3/12
IPC分类号 ：
G05D3/12 G01C1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制；调节
G05D
非电变量的控制或调节系统
G05D3/00
位置或方向的控制
G05D3/12
使用反馈的
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G05D 3/12
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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