超宽带RCS缩减超表面阵列的优化方法、系统及介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种超宽带RCS缩减超表面阵列的优化方法、系统及介质，该方法包括：确定不同高度、不同方环边长组合的漫反射结构单元的RCS相位以及幅值；通过阵因子计算不同初始阵列的RCS，通过遗传算法对包含多元子阵的超表面阵列进行优化，通过空间映射算法和全波分析方法的验证进行进一步的优化，实现了对于超宽带雷达散射截面缩减超表面的快速设计。本发明相对于传统超表面算法优化设计方法，不仅考虑了子阵耦合的影响，而且极大缩短了电磁仿真软件的验证时间，具有编程简单、计算效率高的优点，具有较高实用价值。
基本信息
专利标题 ：
超宽带RCS缩减超表面阵列的优化方法、系统及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114417557A
申请号 ：
CN202111538312.4
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
顾鹏飞陈如山丁大志樊振宏何姿
申请人 ：
南京理工大学
申请人地址 ：
江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 ：
南京理工大学专利中心
代理人 ：
马鲁晋
优先权 ：
CN202111538312.4
主分类号 ：
G06F30/20
IPC分类号 ：
G06F30/20 G06F30/27 G06N3/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20211215
申请日 : 20211215
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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