一种对接检测装置及方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种对接检测装置及方法,属于针孔对接检测技术领域。其中,一种对接检测装置,包括:位移传感组件、控制组件和柔性组件;位移传感组件用于检测对接组件与固定件之间的对接距离;控制组件根据各个位移传感组件采集的对接距离,计算每两个对接距离之间的差值,确定任一差值是否大于预设阈值;柔性组件用于当控制组件确定任一差值大于预设阈值时,在控制组件作用下调整对接组件的位置。通过控制组件计算每两个对接距离之间的差值,当任一差值大于预设阈值时,控制柔性组件调整对接组件的位置,使对接组件与固定件可以准确对接,解决了固定件与对接组件对接的技术问题,提高了被测器件的测试准确性和可靠性,提高了测试效率。
基本信息
专利标题 :
一种对接检测装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280450A
申请号 :
CN202111509404.X
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周欣萍周静郝改萍冯建呈田楠刘俊涛董雪起刘树凯周慧吕延军周李成
申请人 :
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 :
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 :
张娜
优先权 :
CN202111509404.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211210
申请日 : 20211210
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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