一种激光倍频晶体相位匹配方向的快速测量系统及方法
实质审查的生效
摘要
本公开实施例中提供了一种激光倍频晶体相位匹配方向的快速测量系统及方法，该方法包括：将入射激光束整形为锥形激光束；以所述锥形激光束照射所述激光倍频晶体；获取从所述激光倍频晶体出射的出射激光光斑，其中所述出射激光光斑包含中心条纹；以及基于所述中心条纹距离所述出射激光光斑中心的距离获取所述激光倍频晶体相位匹配方向。通过本公开的处理方案，操作简单，耗时短，且能够准确测量激光倍频晶体的相位匹配方向。
基本信息
专利标题 ：
一种激光倍频晶体相位匹配方向的快速测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414210A
申请号 ：
CN202111416199.2
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡东霞王辉褚东亚裴国庆刘博武徐旭叶朗周海张朗
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈龙
优先权 ：
CN202111416199.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20211125
申请日 : 20211125
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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