一种基于表面增强拉曼散射技术的汞离子定量检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于表面增强拉曼散射技术的汞离子定量检测方法，首先通过纳米压印获得金纳米手指阵列结构，然后在Au纳米手指阵列结构上通过硫氢键修饰特定单链DNA，在DNA溶液挥发过程中坍塌手指阵列结构，最后通过滴定汞离子溶液，使得卧倒在Au表面的单链DNA变成垂直于Au表面的双链DNA螺旋空间结构，这样使DNA中的末端碱基分子远离间隙中形成的耦合增强电磁场，因而其SERS信号降低。本发明可同时实现混合溶液中Hg离子的无干扰高选择性及高灵敏度检测。
基本信息
专利标题 ：
一种基于表面增强拉曼散射技术的汞离子定量检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563386A
申请号 ：
CN202111191165.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2021-10-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘凡新
申请人 ：
浙江工业大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市下城区潮王路18号
代理机构 ：
浙江千克知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵芳
优先权 ：
CN202111191165.8
主分类号 ：
G01N21/65
IPC分类号 ：
G01N21/65 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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