具有继电器系统的功能测试设备以及使用其的测试方法
实质审查的生效
摘要
本公开提供一种电子元件的功能测试设备以及该电子元件的测试方法。该功能测试设备具有一第一电源供应器、一第二电源供应器以及一继电器系统。该第一电源供应器经配置以产生一第一供应电压。该第二电源供应器经配置以产生一第二供应电压，该第二供应电压不同于该第一供应电压。该继电器系统经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件，其中该第一供应电压施加到该电子元件一第一持续时间，以及该第二供应电压施加到该电子元件一第二持续时间，该第二持续时间小于该第一持续时间。
基本信息
专利标题 ：
具有继电器系统的功能测试设备以及使用其的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114333974A
申请号 ：
CN202110941856.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-08-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨吴德
申请人 ：
南亚科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新北市
代理机构 ：
隆天知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄艳
优先权 ：
CN202110941856.9
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20210817
申请日 : 20210817
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
