用于检测荷电粒子或光的检测器
公开
摘要
本公开的一实施方式涉及包含AD并且检测荷电粒子或光的检测器，不改变限制该检测器的响应的AD的结构，就能够实现该检测器的响应的高速化。AD的驱动电路包含第一电容器及第一电阻。第一电容器及第一电阻的双方在将两端子设定成相同电位的状态下，与AD串联连接。通过该结构，AD的表观的静电容量变小，使包含该驱动电路的检测器整体的响应高速化。
基本信息
专利标题 ：
用于检测荷电粒子或光的检测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114520141A
申请号 ：
CN202110861930.6
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2021-07-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高塚清香小林浩之
申请人 ：
浜松光子学株式会社
申请人地址 ：
日本静冈县
代理机构 ：
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨琦
优先权 ：
CN202110861930.6
主分类号 ：
H01J49/02
IPC分类号 ：
H01J49/02 G01N27/62
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
法律状态
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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