电参量校准方法、装置、电子设备和存储介质
公开
摘要
本申请实施例公开了一种电参量校准方法、装置、电子设备和存储介质；包括：获得被测测量仪表输出的电压与电流之间夹角的校准初值；分别计算校准初值对应的有功功率初校值、以及角度标准值对应的有功功率标准值，并计算两者之间的初校偏差值；确定夹角期望值对应的有功功率期望值与有功功率标准值的期望偏差值；计算初校偏差值与期望偏差值的比值，该比值为相位修正值；根据相位修正值与相位补偿系数之间的映射关系，获得相位补偿系数；根据相位补偿系数以及校准初值，确定校准终值。由于确定相位补偿系数时，应用到误差更小的夹角期望值，因此可使得校准终值与角度标准值的误差比校准初值与角度标准值的误差更小，从而提升夹角校准值的精度。
基本信息
专利标题 ：
电参量校准方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563748A
申请号 ：
CN202110814886.3
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2021-07-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曹恒陈又银曹可
申请人 ：
上海艾临科智能科技有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区嘉罗公路1719号45幢
代理机构 ：
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)
代理人 ：
李玉婷
优先权 ：
CN202110814886.3
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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