一种基于三维扫描的复杂结构最优测点规划方法
授权
摘要
本发明公开了一种基于三维扫描的复杂结构最优测点规划方法,属于施工监测技术领域。本发明对于各类复杂特征的大型建筑物,在有效测点范围内,基于扫描仪第n次扫描下的有效扫描区域,确定第n次的有效测点区域集合,再将已扫描区域与未扫描区域对比整合,进行第x次扫描,借助计算机编程语言,对已扫描区域下对应的有效测点集合进行反复迭代,从而确定最优测点路径,最终对采集的点云数据进行处理,提取三维坐标、拟合。本发明实现了三维激光扫描仪的高精度、高效率、扫描时间短以及全自动化的技术革新。
基本信息
专利标题 :
一种基于三维扫描的复杂结构最优测点规划方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113432572A
申请号 :
CN202110623162.0
公开(公告)日 :
2021-09-24
申请日 :
2021-06-04
授权号 :
CN113432572B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
王俊李昂张培冉雷宏军陆体鹏韩非陈晓洁钦斌姚凯凯盛子才
申请人 :
南京淳铁建设有限公司;南京工业大学
申请人地址 :
江苏省南京市高淳区淳溪镇镇兴路156号
代理机构 :
南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
徐激波
优先权 :
CN202110623162.0
主分类号 :
G01B21/20
IPC分类号 :
G01B21/20 G01B21/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/20
用于计量轮廓或曲率,例如测定外形
法律状态
2022-04-12 :
授权
2021-10-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/20
申请日 : 20210604
申请日 : 20210604
2021-09-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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