通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法
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摘要
本发明实施例提供了一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法。具体的,首先用探头采集介质透镜离焦平面的实际幅值,再将计算机随机生成的初始幅值与初始相位作为初始场的场强,再将上述初始场经介质透镜传输至离焦平面,计算出频域相位以及频域幅值,将计算得到的频域幅值和频域相位作为频域场的场强,并基于由预设离焦平面的频域场得到的空域场的场强与对应离焦平面实际场的场强,计算异构输入场的场强,再采用GS‑HIO算法对上述异构输入场进行预设次数迭代计算,得到相位恢复结果。本发明实施例中,采用GS‑HIO算法恢复相位,可加快算法的收敛速度,且通过多次迭代计算,提高了通过幅值恢复相位的准确性。
基本信息
专利标题 :
通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113406401A
申请号 :
CN202110564181.0
公开(公告)日 :
2021-09-17
申请日 :
2021-05-24
授权号 :
CN113406401B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
俞俊生姚远于海洋陈雨晴陈天洋陈晓东
申请人 :
北京邮电大学
申请人地址 :
北京市海淀区西土城路10号
代理机构 :
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
项京
优先权 :
CN202110564181.0
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10 G01R29/08 G01R25/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-04-05 :
授权
2021-10-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20210524
申请日 : 20210524
2021-09-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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