一种飞片检测装置
授权
摘要

本发明公开了一种飞片检测装置,包括:纳秒激光器、气库材料、X射线产生组件和成像组件;气库材料设置在纳秒激光器的出射光路上,气库材料接收纳秒激光器发射的纳秒激光以产生等离子体射流,并将等离子体射流发送到待检测飞片上以驱动待检测飞片缓慢加速飞行;X射线产生组件产生X射线以照射待检测飞片;成像组件设置在X射线产生组件的出射光路上;待检测飞片设置在X射线产生组件和成像组件之间;成像组件对接收到的X射线进行滤波得到设定能段的X射线,并根据设定能段的X射线对待检测飞片的侧向飞行姿态成像。本发明保持了待检测飞片的完整性,提高了待检测飞片侧向飞行姿态X光图像的对比度和空间分辨力。

基本信息
专利标题 :
一种飞片检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112834534A
申请号 :
CN202110039804.2
公开(公告)日 :
2021-05-25
申请日 :
2021-01-13
授权号 :
CN112834534B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
税敏于明海储根柏席涛何卫华赵永强辛建婷范伟
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市919信箱986-6分箱
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
王爱涛
优先权 :
CN202110039804.2
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-06-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20210113
2021-05-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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