基于X射线图像复检的产品故障预测方法及系统
公开
摘要
在一实施例中,X射线检测系统可以访问标记为不合格的一个或多个第一样本的第一组X射线图像。系统可以基于第一组X射线图像来调整分类算法。分类算法可以基于对相应X射线图像的分析将样本分类为合格或不合格类别。系统可以使用调整后的分类算法来分析多个第二样本的第二组X射线图像。第二样本可以是在调整分类算法之前的先前分析期间,通过分类算法分类为合格的先前被检测的样本。系统可以从第二组X射线图像中识别一个或多个所述第二样本。每个识别的第二样本可以通过调整后的分类算法被分类为不合格。
基本信息
专利标题 :
基于X射线图像复检的产品故障预测方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114450712A
申请号 :
CN202080064434.1
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-07-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
大卫·刘易斯·阿德勒斯科特·约瑟夫·朱勒道格拉斯·A.·克里斯桑
申请人 :
布鲁克纳米公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
宋融冰
优先权 :
CN202080064434.1
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06V10/74 G06V10/764 G06K9/62 G01T1/20 G01N23/083 G01N23/18 G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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