取证探测器及其系统
实质审查的生效
摘要
本公开提供了一种用于远程感测物体(10)表面(120)上的含卟啉物质的取证探测器。取证探测器包括用于产生激发光束(110)的激发光源、多个光学元件、用于测量第一和第二辐射功率的一个或多个传感器(280，281，282)、以及计算机处理器(230)。激发光束(110)的激发波长能够激发卟啉在以665‑675nm之间波长为中心的目标波长下发光。第一和第二辐射功率处于物源光束(110)的非重叠波长区域中。计算机处理器(230)被配置以根据所述第一辐射功率和背景噪声功率水平来计算SNR，并根据所述SNR确定所述表面(120)上是否存在含卟啉物质。背景噪声功率水平是从一个或多个第二辐射功率获得的。
基本信息
专利标题 ：
取证探测器及其系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114424048A
申请号 ：
CN202080002381.0
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2020-09-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张凯晴
申请人 ：
香港应用科技研究院有限公司
申请人地址 ：
中国香港新界沙田香港科学园科技大道东二号光电子中心5楼
代理机构 ：
深圳新创友知识产权代理有限公司
代理人 ：
江耀纯
优先权 ：
CN202080002381.0
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 A61B6/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20200911
申请日 : 20200911
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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