一种存储测试安全试验装置
授权
摘要
本实用新型提出一种存储测试安全试验装置，包括基板；基板上设置第一固定柱、第二固定柱、PCIE TX连接器和线缆固定槽；基板通过第一固定柱与待测存储模块固定连接，通过第二固定柱与测试治具固定相连，通过线缆固定槽水平固定测试线缆；待测存储模块还通过U.2连接器与测试治具的输入端电相连；测试治具的输出端与PCIE TX连接器电连接，PCIE TX连接器与测试线缆电连接。本实用新型可直接用于PCIE_TX信号质量测试；将待测SSD、测试治具、测试线缆固定在基板上，减少了U.2接口、测试线缆受力不均匀导致的信号质量问题；U.2接口、PCIE_TX线缆连接端子均水平放置，减少高速信号反射噪声。
基本信息
专利标题 ：
一种存储测试安全试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022440098.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-28
授权号 ：
CN213483419U
授权日 ：
2021-06-18
发明人 ：
崔光磊
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人 ：
王申雨
优先权 ：
CN202022440098.6
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-06-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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