一种表层土壤采样铲
授权
摘要
本实用新型公开了一种表层土壤采样铲,涉及到表层土壤采样领域,包括安装板,所述安装板的底部一侧固定安装有第一采样铲,所述安装板一侧开设有开口,所述安装板通过开口滑动连接有第二采样铲,所述第二采样铲的顶部固定安装有限位块,所述安装板的顶部固定连接有连接铲柄,所述连接铲柄的顶部通过连接机构连接有主铲柄,所述主铲柄顶部固定安装有把手。本实用新型能够将采样的土壤四周全部与连接土壤分离,无需人工通过铲柄将土壤翘起,防止长期使用铲柄翘起土壤,使铲柄损坏,还能够对不同长度的主铲柄进行更换,使得本装置适用于不同高度的人员。
基本信息
专利标题 :
一种表层土壤采样铲
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022436504.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-28
授权号 :
CN213544045U
授权日 :
2021-06-25
发明人 :
赵雪峰
申请人 :
武汉博源中测检测科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道武汉光谷九龙生物产业基地生物医药产业园加速器二期A85-1栋1-4楼
代理机构 :
济南知来知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
崔静
优先权 :
CN202022436504.1
主分类号 :
G01N1/04
IPC分类号 :
G01N1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/04
固体的,如采用切割
法律状态
2021-06-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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