一种霉变大米无损检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种霉变大米无损检测装置,包括机架,两组所述机架互相靠近两侧的顶部位置处皆设置有连接杆A,两组所述连接杆A互相靠近的两端皆设置有滑槽,所述滑槽内部的两侧皆设置有弹簧A,所述弹簧A远离滑槽的一侧设置有滑块,所述滑块的一端延伸至滑槽的外部并共同设置有暂存仓,所述暂存仓顶部的一侧设置有下料斗;本实用新型通过暂存仓、下料斗、下料仓、荧光接收器、紫外灯和传动带之间的互相配合,使得大米能够通过下料斗进入到暂存仓内,通过下料仓平铺在传动带的表面,从而通过荧光接收器和紫外灯的检测,实现了对大米的全面检测,提高了检测的基数,使得检测数据更加全面和准确。

基本信息
专利标题 :
一种霉变大米无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022353004.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-21
授权号 :
CN213364586U
授权日 :
2021-06-04
发明人 :
徐东升柴磊蓝珍利童翠梅
申请人 :
浙江百泽坊食品有限公司
申请人地址 :
浙江省衢州市衢江区天湖南路50号101室
代理机构 :
浙江永鼎律师事务所
代理人 :
陆永强
优先权 :
CN202022353004.1
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  B07C5/34  G05B19/05  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2021-06-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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