一种半导体模切件用检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及半导体模切件生产技术领域,且公开了一种半导体模切件用检测装置,包括底座,所述底座的顶部固定安装有数量为两个的导向柱,两个所述导向柱的顶部固定安装有固定板,所述固定板的顶部固定安装有电机,所述底座的顶部活动安装有贯穿固定板并与电机输出端传动连接的转动杆,所述底座的顶部固定安装有位于转动杆正面的绝缘垫,所述转动杆的外部活动安装有连接件,所述连接件的左右两侧均固定安装有分别套设于两个导向柱外部的导向件。该半导体模切件用检测装置,结构稳定合理,可用于不同厚度与长度的半导体模切件检测作业,具有较强的适用性,可提高检测效率,减少检测难度,降低检测所需成本。

基本信息
专利标题 :
一种半导体模切件用检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022295599.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
CN213181346U
授权日 :
2021-05-11
发明人 :
臧守根
申请人 :
苏州康辉电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区唯亭张泾工业区D幢
代理机构 :
苏州欣达共创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周升铭
优先权 :
CN202022295599.X
主分类号 :
G01N27/04
IPC分类号 :
G01N27/04  G01K13/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
G01N27/02
通过测试阻抗
G01N27/04
通过测试电阻
法律状态
2021-05-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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