一种双轨双层光源检测盒
授权
摘要

本实用新型公开了一种双轨双层光源检测盒包括相机防滑底座、相机固定支架、中心棱镜组件、中心棱镜角度调节旋钮、侧方棱镜组件、侧方棱镜角度调节旋钮、第一层检测盒、第二层检测盒、取像相机装置、元件检测窗口,可通过棱镜角度调节旋钮来调整棱镜组件的角度,光源组件也可上下进行调节,使得检测盒可以兼容不同角度和大小的材料,降低了人力成本,设置的两层检测盒,可以同时检测两个半导体元器件材料,提高了生产效率,由检测盒代替人眼进行检测,不会有目测时间过长而出现视觉疲劳的问题,从而避免了人眼疲劳检测时出现的误判和漏检问题,准确效率明显提升。

基本信息
专利标题 :
一种双轨双层光源检测盒
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022291476.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
CN213398235U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
董红杰薛宁张云飞
申请人 :
无锡微观视觉科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市扬名工业园梁东路118-1号
代理机构 :
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 :
涂琪顺
优先权 :
CN202022291476.9
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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