本实用新型涉及芯片检测技术领域，公开了一种具有耐腐蚀抗静电功能的旋转料梭，所述旋转盘的上表面位于中部位置处嵌入开设有芯片放置槽，且旋转盘的上表面位于芯片放置槽的边角位置处对称开设有通光槽，所述旋转盘的上方位于芯片放置槽的后侧设置有压固机构。本实用新型通过硬度氧化膜对旋转盘本体的防护，能够使旋转盘具有防腐蚀、表面光滑、防静电等能力，进而提高旋转料梭对外界因素的抗性，同时确保芯片测量的精准性，且在测量过程中，通过压固机构对芯片放置槽内芯片的弹性压固，能够使芯片在测量过程中保持平稳的静置，避免芯片在测量过程中出现偏移的情况，进而提高芯片测量的高效精准性。