一种数字机芯多功能老化测试模块
授权
摘要
本实用新型公开了一种数字机芯多功能老化测试模块，包括处理器模块、16路LVDS KEL座模块、切换开关模块、LVDS转BT1120模块，LCD显示模块、存储模块、电源模块、信息输出模块、FLASH模块及DDR模块，处理器与LVDS转BT1120双向连接，LVDS转BT1120与切换开关双向连接，切换开关与16路LVDS KEL座双向，处理器与LCD显示双向连接，处理器与存储双向连接，处理器与信息输出双向连接。本实用新型具有如下有益效果：提供至多16路数字机芯LVDS视频接入测试，可满足数字机芯关于LVDS信号输出的生产测试。通过图像分析的手段，判定输入的数字信号是否正常，并作记录。
基本信息
专利标题 ：
一种数字机芯多功能老化测试模块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022160548.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-27
授权号 ：
CN213149125U
授权日 ：
2021-05-07
发明人 ：
罗中亮
申请人 ：
深圳市焦点数字科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区文苑街35号西丽新源工业厂区1栋(聚创金谷创意园)八楼813a室
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
梁炎芳
优先权 ：
CN202022160548.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-05-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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