一种偏摆仪式对称度测量装置
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摘要
本实用新型公开了一种偏摆仪式对称度测量装置，包括工作台，所述工作台的底端设有若干支撑座，所述工作台顶端的一侧设有第一支撑台，所述第一支撑台顶端设有第一顶针架，所述第一顶针架的一端设有第一顶针，所述工作台顶端的另一侧设有第二支撑台，所述第二支撑台的顶端设有第二顶针架，所述第二顶针架的一端设有第二顶针，所述工作台顶端的中间位置设有滑轨，所述滑轨的顶端设有第一滑块，所述第一滑块顶端的一侧设有曲柄结构，所述第一滑块顶端的另一侧设有第二滑块，所述第二滑块的顶端设有测量仪，所述工作台顶端设置有支撑结构。有益效果：能够进行对称度测量，测量方便，操作简单，能够对被测件进行支撑，便于对被测件的安装与拆卸。
基本信息
专利标题 ：
一种偏摆仪式对称度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022058331.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-18
授权号 ：
CN212903140U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
张正响唐子宜
申请人 ：
上海珍诚机械有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区车墩镇香闵路80号2幢
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022058331.4
主分类号 ：
G01B21/24
IPC分类号 ：
G01B21/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/24
••用于检测轴线准直
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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