用于测量间隙的数显塞尺
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摘要
本实用新型公开了一种用于测量间隙的数显塞尺，用于测量缝隙的间隙值，其特征在于，包括：测头，其包括支撑件和弹性部，所述支撑件和所述弹性部围构而成一空腔，所述空腔内设置有至少两个电阻应变片，所述弹性部能在受到外力时改变两个所述电阻应变片之间的间距；采集器，其用于与所述电阻应变片电性连接；数显单元，其用于与所述采集器电性连接；手柄，其套设在所述支撑件上。本方案具有测量的效率高、能降低人为因素导致的误差、测量结果可以由数显单元快速显示、提高数据采集的便捷性等优点。
基本信息
专利标题 ：
用于测量间隙的数显塞尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022018138.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-15
授权号 ：
CN212963183U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
沃林沃家
申请人 ：
苏州英示测量科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市新区向阳路
代理机构 ：
苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
金京
优先权 ：
CN202022018138.8
主分类号 ：
G01B7/14
IPC分类号 ：
G01B7/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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