一种TO测试底座
授权
摘要
本实用新型公开了一种TO测试底座，该测试底座包括5个测试孔，5个测试孔呈正五边形排列，其中1个测试孔为长测试孔，其余4个测试孔为圆测试孔；或其中4个测试孔为圆测试孔，呈等腰梯形排列，第5个测试孔为长测试孔，位于等腰梯形下底的中点处。此外，所有测试孔的孔径均远大于LD‑TO的管脚直径，测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形；长测试孔为长圆形、长椭圆形或长条形。本实用新型的测试底座能够兼容现有的两种测试底座，适用这两种LD‑TO的测试和老化，节省生产成本。
基本信息
专利标题 ：
一种TO测试底座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022015690.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-15
授权号 ：
CN212965228U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
王永虎刘倚红
申请人 ：
武汉敏芯半导体股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区金融港四路18号普天物联网创新研发基地(一期)1栋3层02室03号
代理机构 ：
湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人 ：
许美红
优先权 ：
CN202022015690.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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