阶梯式塞规检定装置
授权
摘要
本实用新型涉及仪器设备检测技术领域，尤其涉及一种阶梯式塞规检定装置，包括底座、龙门支架、塞规支撑座、CCD相机以及相机支架；所述龙门支架固定在所述底座上，龙门支架的内侧固定有两根连接柱，所述相机支架通过紧固套固定在所述连接柱上，所述CCD相机为四个，分为两组，每组两个CCD相机上下相对设置在所述相机支架上，所述塞规支撑座为两块，位于龙门支架的前侧并固定在底座上。本装置结构简单，通过四个CCD相机能够快速的对塞规的大小端进行测量检定，检定速度快，工作效率高。
基本信息
专利标题 ：
阶梯式塞规检定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021854306.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN212931219U
授权日 ：
2021-04-09
发明人 ：
赫新宇
申请人 ：
药临医疗技术服务（天津）有限公司
申请人地址 ：
天津市津南区双港镇双港工业园区天宇荣昌创意园1-1-603、604、605
代理机构 ：
天津市三利专利商标代理有限公司
代理人 ：
李文洋
优先权 ：
CN202021854306.0
主分类号 ：
G01B3/46
IPC分类号 ：
G01B3/46 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/46
用于测定内尺寸的具有接触面的塞规，接触面间的距离虽可预先调节但它是固定的
法律状态
2021-04-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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