一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统，包括依次设置的水平旋转平台、可调侧光源结构、图像获取装置、图像存储装置及图像处理装置，该水平旋转平台可带动待测物体沿水平方向进行旋转，基于增设的水平旋转平台，从而便于CCD相机获取待测物体在不同水平旋转角度下的灰阶图像，此时可将固定的反光区域屏蔽，然后将个灰阶图像的非屏蔽区域与预设的灰阶图像进行比较，从而判定待测物体是否出现瑕疵以及具体瑕疵的位置，避免了传统的采用单边侧式光源模块及采用双边侧式光源模块进行光学检测的弊端，防止漏检的情况发生。
基本信息
专利标题 ：
一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021814683.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
CN212301354U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
陈证雧吴嘉航
申请人 ：
昆山亘恒智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山开发区前进东路757号楼2413室
代理机构 ：
苏州尚为知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈钢
优先权 ：
CN202021814683.1
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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