一种光学薄膜用厚度检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种光学薄膜用厚度检测装置,包括底板,所述底板上对称固定连接有四个支撑杆,四个所述支撑杆远离底板的一端上均固定连接有顶板,所述顶板靠近底板的一侧壁上设有测厚仪,四个所述支撑杆上均滑动连接有检测工作台,所述底板的上端面上固定连接有步进电机,所述步进电机的输出端上固定连接有往复丝杠。本实用新型中,工作人员仅需控制步进电机的关启以及更换待测厚的光学薄膜,至于光学薄膜的定位固定可随着检测工作台的上移和下移而自动进行和取消,所以使用起来非常的方便,省时省力,能够显著的提升光学薄膜厚度检测的工作效率,并大幅度降低了工作人员的工作负担。

基本信息
专利标题 :
一种光学薄膜用厚度检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021809006.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN212988313U
授权日 :
2021-04-16
发明人 :
罗娟
申请人 :
上海邃铸科技有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区沪青平公路277号5楼
代理机构 :
北京高航知识产权代理有限公司
代理人 :
乔浩刚
优先权 :
CN202021809006.0
主分类号 :
G01B21/08
IPC分类号 :
G01B21/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2021-04-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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