辐射壳体匹配块小间隙非接触精密激光测量装置
授权
摘要
辐射壳体匹配块小间隙非接触精密激光测量装置,大行程模组(1)与高精密高平面度模组(3)垂直叠加安装在基准平台(8)上，在高精密高平面度模组(3)上固定快换工装夹具(6)，同时在大行程模组(1)与高精密高平面度模组(3)上方安装激光测量仪(7)。通过设计精确移动基准平台和传感测量系统以及支撑固定工装配合好实施激光测距非接触测量，解决有限空间中测量精度要求较高的问题。适应狭小有限内部空间内部结构精确测量，测量尺寸较小的情况下也可保持高测量精度，测量间隙不小于0.6±0.03mm，测量精度可达0.25μm。结构紧凑，安装操作便捷，自动化程度高。
基本信息
专利标题 ：
辐射壳体匹配块小间隙非接触精密激光测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021743655.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-19
授权号 ：
CN212931340U
授权日 ：
2021-04-09
发明人 ：
李康张平华沈杰
申请人 ：
上海一航凯迈光机电设备有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区海盈路海盈新村3-4号楼H-003室
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
郭春远
优先权 ：
CN202021743655.5
主分类号 ：
G01B11/14
IPC分类号 ：
G01B11/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2021-04-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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