一种用于试件抗压试验的定位机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于试件抗压试验的定位机构,包括入射杆和透射杆,还包括试验罩,入射杆与透射杆相向的一端均穿过试验罩,试件安装在试验罩内;试验罩靠近透射杆的内壁表面上均匀设置有多块第一永磁体,透射杆上可拆卸连接有与永磁铁相匹配的半环形的电磁铁;试验罩靠近所述入射杆的内壁上固定连接有用于支撑所述试件的圆弧形的支撑板。本实用新型中的定位机构不仅可以对霍普金森压杆抗压试验中的试件进行稳定的支撑定位,保持试件与入射杆和透射杆之间同轴,还能够在试验瞬间使试件脱离支撑板,能够快速有效完成试件在冲击条件下的抗压试验,提高试验精度。
基本信息
专利标题 :
一种用于试件抗压试验的定位机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021673401.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-12
授权号 :
CN212932258U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
刘石许金余刘少赫白二雷
申请人 :
中国人民解放军空军工程大学
申请人地址 :
陕西省西安市灞桥区长乐东路甲字一号
代理机构 :
西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨凤娟
优先权 :
CN202021673401.0
主分类号 :
G01N3/317
IPC分类号 :
G01N3/317 G01N3/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/30
用一次冲击力
G01N3/317
通过电磁方法产生的
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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