一种联检分析仪校准装置

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摘要

本实用新型公开了一种联检分析仪校准装置，包括基板，所述基板的上表面的设置有联检分析仪，所述基板的上表面且位于联检分析仪的左方固定连接有第一去静电器，所述第一去静电器的内部固定连接有去静电风扇，所述基板的上表面且位于第一去静电器的左方设置有滑轨，所述滑轨的内部设置有滑轨滑片，所述滑轨滑片的上表面固定连接有支撑杆，所述支撑杆的上表面固定连接有大转动槽，所述大转动槽的内部设置有T型顶杆，所述T型顶杆的内部设置有可伸缩杆。本实用新型中，配备了三种对联检分析仪进行工作前的校准装置，去静电装置可以去除联检分析仪表面静电，除尘装置可以去尘表面微粒，底部的水平调节器可以使连接分析仪保持水平的工作状态。

基本信息

专利标题：

一种联检分析仪校准装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021451863.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-21

授权号：

CN213022878U

授权日：

2021-04-20

发明人：

韩萧任科云龚皓

申请人：

湖北佰世鑫科贸发展有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区黄龙山北路4号厂房2栋5层B5-038(一址多照)

代理机构：

北京化育知识产权代理有限公司

代理人：

尹均利

优先权：

CN202021451863.8

主分类号：

G01N21/78

IPC分类号：

G01N21/78 G01N21/01