一种轮廓检查传感器测试平台装置
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摘要
一种轮廓检查传感器测试平台装置，包括：平台结构、轮廓检查传感器测试机构、滑动检测平台机构和平台控制电气箱，轮廓检查传感器测试机构与平台结构上部连接，滑动检测平台机构与平台结构连接，平台控制电气箱设于平台结构一侧，平台控制电气箱与轮廓检查传感器测试机构和滑动检测平台机构连接。本实用新型与传统技术相比，强化了平台的整体稳定性，保证测量精度；设计高精度丝杆进行滑台传动，使滑台运行更加平稳。
基本信息
专利标题 ：
一种轮廓检查传感器测试平台装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021401047.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN212227993U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
刘可
申请人 ：
上海灵测信息科技有限公司
申请人地址 ：
上海市普陀区兰溪路900弄15号911室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021401047.6
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2020-12-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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