一种用于老化测试机台的老化板背面测试装置
授权
摘要
一种用于老化测试机台的老化板背面测试装置，包括用于固定老化板的支撑架和与支撑架连接的PCB反接板，所述PCB反接板设置有用于连接老化板的老化板插槽和用于连接PCB连接板插槽的反接板金手指，所述金手指上端口与老化板插槽上端口通过信号线一一匹配，所述金手指上端口的排列顺序与老化板插槽上对应端口的排列顺序相反。本实用新型通过PCB反接板将PCB连接板和老化板之间的连接信号进行交叉，并在支撑架的支撑下使得老化板在背面朝上时候可以工作，方便老化测试机台对老化板背面进行测试，具有结构简单、使用简单的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种用于老化测试机台的老化板背面测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021251773.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-01
授权号 ：
CN213337894U
授权日 ：
2021-06-01
发明人 ：
朱勇郑翠华李广辉
申请人 ：
上海季丰电子股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区友东路258-288号2幢101室
代理机构 ：
上海海钧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
姜波
优先权 ：
CN202021251773.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
