一种半导体封装的缺胶检测装置
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摘要
本实用新型公开了一种半导体封装的缺胶检测装置,包括安装板,所述安装板的上方表面开设有安装槽,且安装板的外侧壁均开设有限位孔,所述限位孔的内侧设置有限位杆,所述安装板的外侧下方设置有固定套筒,且固定套筒的内侧设置有转轴,所述转轴的外侧下方设置有伸缩管,且伸缩管的外侧设置有螺纹杆,所述伸缩管的外侧下方设置有伸缩杆,且伸缩杆的外侧均开设有螺纹孔,所述伸缩杆的外侧下方设置有连接块,且连接块的外侧下方设置有连接板。该半导体封装的缺胶检测装置,通过伸缩管和伸缩杆,可以对检测探头进行伸缩高度调节,方便了工作人员的操作,从而提高了该装置的工作效率。
基本信息
专利标题 :
一种半导体封装的缺胶检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021195458.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-24
授权号 :
CN212808666U
授权日 :
2021-03-26
发明人 :
刘根
申请人 :
安徽陆科光电科技有限公司
申请人地址 :
安徽省铜陵市经开区翠湖二路中科大创业园D座
代理机构 :
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 :
翁亚娜
优先权 :
CN202021195458.4
主分类号 :
G01V9/00
IPC分类号 :
G01V9/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V9/00
用G01V1/00至G01V8/00各组不包括的方法勘探或探测
法律状态
2021-03-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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