一种检查芯片侧面质量工具
授权
摘要
本实用新型公开了一种检查芯片侧面质量工具，包括底座、防尘罩和抽屉；底座：其上表面外沿设有配合槽，配合槽的底面后端对称固定连接有支撑块，支撑块的中部设有安装孔，底座的下表面设有对称分布的支脚，底座的内部前端设有空腔，底座的上表面设有均匀分布的检测槽；防尘罩：为锥台型结构，防尘罩的后侧底端设有转轴，转轴的两端分别与对应的支撑块的安装孔内壁转动连接，防尘罩的前端与配合槽位置对应；抽屉：其左右两侧面设有对称分布的滑轨，该检查芯片侧面质量工具，提升了观察的质量，操作方便，提高了检查效率，防护性能好，保证了检查结果的准确度，提高了实用性能，延长了使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
一种检查芯片侧面质量工具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021017686.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-05
授权号 ：
CN212159600U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
俞子强黄国勇潘江南
申请人 ：
苏州凡恩机械科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区甪直镇甪胜路30-8号
代理机构 ：
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张铁兰
优先权 ：
CN202021017686.2
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01 B08B1/00 B25H3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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