测试柜
授权
摘要
本申请提供一种测试柜。测试柜包括：柜体，所述柜体包括容置空间，所述容置空间用于放置待测试产品；自动化测试组件，所述自动化测试组件与所述待测试产品电连接，所述自动化测试组件用于测试所述待测试产品的配置端口的功能情况；老化测试组件，所述老化测试组件用于调节所述柜体内的测试温度。
基本信息
专利标题 ：
测试柜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021010426.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-04
授权号 ：
CN212622693U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
赵勇杨小会
申请人 ：
杭州迪普科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区通和路68号中财大厦6楼
代理机构 ：
北京博思佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王婵
优先权 ：
CN202021010426.2
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/00 G05D23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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