一种高纯锗探测设备
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摘要
本实用新型公开了一种高纯锗探测设备，涉及高纯锗探测技术领域，具体为一种高纯锗探测设备，包括移动底板、检测机构，所述移动底板的内部开设有滑动槽，所述移动底板的表面活动套接有移动套板，所述移动套板延伸至滑动槽的内部，所述移动底板下表面的中部活动套接有连接柱。该高纯锗探测设备，通过传动板、连接柱、传动齿轮、齿槽的配合使用，利用连接柱带动传动齿轮进行转动，利用传动齿轮与齿槽相啮合，使传动板带动移动套板左右进行移动，进而对检测机构的位置进行改变，同时利用电动伸缩支撑杆可以对移动底板的高度进行调节，进而调节检测机构的高度，提高了该高纯锗探测设备的使用便捷性。
基本信息
专利标题 ：
一种高纯锗探测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020977122.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-02
授权号 ：
CN212483887U
授权日 ：
2021-02-05
发明人 ：
周鹏
申请人 ：
兰州束流线真空电子有限公司
申请人地址 ：
甘肃省兰州市城关区高新S625号路以南5号13号楼15层01室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020977122.7
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00 G01V5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2021-02-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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