一种比表面积孔径分析仪的样品制备装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种比表面积孔径分析仪的样品制备装置,包括壳体,所述壳体的顶侧固定连接有防护罩,所述防护罩的内侧设置有控制主机,所述壳体的底端固定连接有固定接头,所述壳体的内侧靠近固定接头的一侧固定连接有导管,所述导管的靠近固定接头一侧固定连接有压力传感器,所述导管远离压力传感器的两侧分别固定连接有第一电磁阀与第二电磁阀。本实用新型中,通过控制主机的调控上述工作参数,实现对各类超轻、含水量高等各类难处理样品的有效处理,无需人员干预,做到智能调控,该系统也可根据设定真空门限值和门限值维持时间的参数,判断样品表面杂质是否完全释放,不需要经验摸索处理时间,仅需给定合理温度。

基本信息
专利标题 :
一种比表面积孔径分析仪的样品制备装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020913745.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-27
授权号 :
CN213121322U
授权日 :
2021-05-04
发明人 :
孙超
申请人 :
北京彼奥德电子技术有限公司
申请人地址 :
北京市昌平区城南街道南郝庄村西
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020913745.8
主分类号 :
G01N1/28
IPC分类号 :
G01N1/28  G01N1/44  F04B49/06  F04B49/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2021-05-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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