一种基坑变形监测用棱镜基座
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种基坑变形监测用棱镜基座,涉及基坑技术领域,包括底座,所述底座的顶部固定连接有承载柱,所述承载柱的顶部设置有螺纹槽,且承载柱的上方设置有调节轴,所述调节轴的顶部固定连接有调节盘,所述调节盘的顶部设置有空腔。本实用新型中,通过手轮、竖轴和底座之间的配合使用,控制每个插脚插入基坑土壤的深度,即实现了该基座水平调节的功能,以便使其适用于不平整的基坑,通过承载柱、螺纹槽、调节轴、调节盘、空腔、圆盘、第一磁铁、第二磁铁、连接轴和承载座之间的配合使用,既能实现棱镜高度调节的功能,又能实现棱镜角度调节的功能,增加了棱镜监测的效果,增加了使用的便捷性。
基本信息
专利标题 :
一种基坑变形监测用棱镜基座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020864822.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-21
授权号 :
CN211878288U
授权日 :
2020-11-06
发明人 :
岳文通
申请人 :
岳文通
申请人地址 :
河北省廊坊市广阳区颐和佳苑小区
代理机构 :
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张铁兰
优先权 :
CN202020864822.5
主分类号 :
G02B7/18
IPC分类号 :
G02B7/18 E02D33/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B7/00
光学元件的安装、调整装置或不漏光连接
G02B7/18
用于棱镜;用于反光镜
法律状态
2022-05-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G02B 7/18
申请日 : 20200521
授权公告日 : 20201106
终止日期 : 20210521
申请日 : 20200521
授权公告日 : 20201106
终止日期 : 20210521
2020-11-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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