基于驱动芯片的IGBT过流故障检测电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于驱动芯片的IGBT过流故障检测电路，包括：驱动芯片单元、限流单元、上拉单元以及Desat检测单元；驱动芯片单元的内部集成有去饱和检测逻辑电路，限流单元的一端连接驱动芯片单元的Desat检测端口，另一端连接Desat检测单元；上拉单元的一端连接限流单元和Desat检测单元的连接端点，另一端连接恒定的高电平；Desat检测单元的一端连接IGBT的集电极，另一端接地。能够消除驱动芯片的Desat检测端口负压超限风险，降低驱动芯片的Desat检测端口灌电流过大风险，提高驱动芯片运行的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
基于驱动芯片的IGBT过流故障检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020750840.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-08
授权号 ：
CN211930607U
授权日 ：
2020-11-13
发明人 ：
刘蕾焦民胜张林郭燕齐
申请人 ：
一巨自动化装备（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区自由贸易试验区金海路1000号16号楼1201单元
代理机构 ：
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 ：
范晴
优先权 ：
CN202020750840.0
主分类号 ：
H03K17/08
IPC分类号 ：
H03K17/08 G01R31/26
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法律状态
2020-11-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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