传感器测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种传感器测试装置，其包括测试治具、发热组件、输出检测装置以及上位机；测试治具设有测试腔体，其用于安装至少部分延伸至测试腔体内的待测元件；发热组件固定于测试治具且至少部分收容于测试腔体内，其用于产生热量以模拟热源；输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号，且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送；上位机分别电连接于发热组件和输出检测装置，用于控制发热组件产生热量，且用于接收经二值化处理后的触发电信号，并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。与相关技术相比，本实用新型的传感器测试装置操作简单、测试效率高且测试可靠性高。
基本信息
专利标题 ：
传感器测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020634774.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-24
授权号 ：
CN212179947U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
汪昀陈保林刘颖
申请人 ：
深圳光峰科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦20-22楼
代理机构 ：
广东广和律师事务所
代理人 ：
陈巍巍
优先权 ：
CN202020634774.0
主分类号 ：
G01D18/00
IPC分类号 ：
G01D18/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D18/00
测试或校准大组G01D1/00-G01D15/00中列入的设备或装置
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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