一种微阵列芯片扫描仪的光学系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种微阵列芯片扫描仪的光学系统，包括入射光系统和发射光系统，所述入射光系统设置于微阵列芯片扫描仪中的微阵列芯片的背面方，所述发射光系统设置于微阵列扫描仪中的微阵列芯片的正面方，所述入射光系统包括激光发生器和激发光滤光片，所述发射光系统包括准直物镜组、发射光滤镜组、发射光物镜组、针孔和检测器。本实用新型避免了由于分光镜导致的激发光源和发射光源衰减的缺陷，也不会出现激发光源的反射光，提升了光学系统的灵敏度，显著改善了整个微阵列扫描仪的测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种微阵列芯片扫描仪的光学系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020443733.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-31
授权号 ：
CN212207113U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
杨琳
申请人 ：
南京宇漾高新科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市浦口区丹桂路22号-4
代理机构 ：
南京苏高专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
高艳敏
优先权 ：
CN202020443733.3
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 C12M1/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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