铝基电路板高效耐压测试设备
授权
摘要
一种铝基电路板高效耐压测试设备，包括承载组件、测试组件、缓冲组件及压合组件，测试组件设置于承载组件上，缓冲组件设置于测试组件上，压合组件设置于承载组件上，且压合组件位于测试组件上方，本实用新型的铝基电路板高效耐压测试设备，利用承载组件、测试组件、缓冲组件及压合组件，能够同时对铝基电路板上的多个印制电路进行耐压测试，从而有效提高铝基电路板的耐压测试效率，而且对测试探头进行有效的绝缘，从而提高耐压测试时的安全系数，进一步地，测试探头能够可靠地与铝基电路板上的印制电路接触，从而对铝基电路板上的印制电路进行有效保护，以提高铝基电路板的生产质量。
基本信息
专利标题 ：
铝基电路板高效耐压测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020357381.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-19
授权号 ：
CN212410758U
授权日 ：
2021-01-26
发明人 ：
孙奕明
申请人 ：
惠州市海博晖科技有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区东江产业园东祥南路1号厂房第1至3层
代理机构 ：
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘羽
优先权 ：
CN202020357381.X
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2021-01-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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