一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置。待测对象带材置于第一第二透镜之间,光源发出的光束,经过第一透镜汇聚成平行光束后,再经第二透镜汇聚入射到电桥光电测量电路的光敏电阻上,经第一透镜出射的光束一部分被带材阻挡,另一部分直接入射到第二透镜,电桥光电测量电路再经过转换放大器后输出电压表征微位移,并精确求出电压与微位移的关系式。本实用新型将微小位移的变化利用差动光通量实现转变和测量,并通过直流电桥光电转换电路来测量差动光通量,再经过转换放大器后输出电压,能用于准确地测量带材微小位移,提高微小位移的测量精度。
基本信息
专利标题 :
一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020342593.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-18
授权号 :
CN212158473U
授权日 :
2020-12-15
发明人 :
陈水桥厉位阳
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
林超
优先权 :
CN202020342593.0
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02 G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-02-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20200318
授权公告日 : 20201215
终止日期 : 20210318
申请日 : 20200318
授权公告日 : 20201215
终止日期 : 20210318
2020-12-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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