一种专用于SD NAND卡的测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种专用于SD NAND卡的测试设备，包括设备本体、防尘橡胶塞、夹持海绵、吸附结构和测试插孔，所述设备本体顶端的一侧设置有存卡槽，且存卡槽的内部固定有隔板，所述隔板两侧的存卡槽内部皆固定有固定片，且固定片的顶端皆固定有等间距的立板，所述存卡槽上方的设备本体顶端固定有控制面板，且控制面板上方的设备本体顶端固定有显示屏，所述设备本体底端的拐角位置处皆设置有吸附结构，所述设备本体一侧的外壁上设置有测试槽，且测试槽内侧的设备本体外壁上皆设置有等间距的测试插孔。本实用新型不仅减少了测试插孔内部灰尘的积留，实现了设备本体的固定功能，而且减少了检测后SD NAND卡的混淆。
基本信息
专利标题 ：
一种专用于SD NAND卡的测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020325095.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-16
授权号 ：
CN211016552U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
黄少娃
申请人 ：
深圳市铨兴科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区华强北街道福强社区华强北路1002号赛格广场3507A
代理机构 ：
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曾令安
优先权 ：
CN202020325095.5
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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